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當(dāng)前位置：上海喬科儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>鍍層厚度檢測(cè)儀
主要特點(diǎn) 測(cè)試金屬種類：鉛，銅，鎘，鋅，砷，汞。
技術(shù)參數(shù) 探測(cè)器配置高靈敏電制冷SiLi探測(cè)器技術(shù),儀器免維護(hù)和*運(yùn)行,壽命達(dá)15年以上（可選用：液氮SiLi 探測(cè)器）*的分辨率： 電制冷SiLi 探測(cè)器 晶...
技術(shù)參數(shù) 1.分析原理：能量色散X射線熒光分析法2.分析元素：Si-UCd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型；Na-Uφ1.2mm/φ0.1mm切換方式型3.檢出...
儀器介紹 運(yùn)用X 熒光原理實(shí)現(xiàn)痕量元素分析及鍍層厚度測(cè)量。應(yīng)用于：有害元素痕量分析 焊料合金成分分析和鍍層厚度測(cè)量 電子產(chǎn)品中金和鈀鍍層的厚度測(cè)量 五金電鍍、C...
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